38,229.11 | +155.13 | 155.75 | -0.07 | 39,512.84 | +125.08 | 3,154.54 | +0.22 |
0.41% | -0.04% | 0.32% | 0.01% |
開示 |
Lasertec launches a new wafer edge inspection system, EZ300 | |
開示 |
新製品 ウェハエッジ検査装置「EZ300]を発表 | |
開示 |
Cree Inc. chooses an additional SiC wafer and review system from Lasertec. | |
開示 |
Cree Inc. SiCウェハ欠陥検査/レビュー装置「SICA」追加導入のお知らせ |
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